新型轉(zhuǎn)動(dòng)慣量實(shí)驗(yàn)儀KY-IM-C

新型轉(zhuǎn)動(dòng)慣量實(shí)驗(yàn)儀KY-IM-C

轉(zhuǎn)動(dòng)慣量是描述剛體轉(zhuǎn)動(dòng)中慣性大小的物理量，它與剛體的質(zhì)量分布及轉(zhuǎn)軸位置有關(guān)。正確測定物體的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量，在工程技術(shù)中具有十分重要的意義。用三線擺法測定剛體的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量是高校理工科物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱中的一個(gè)重要實(shí)驗(yàn)。

　　為了使教學(xué)儀器和教學(xué)內(nèi)容更好的反映現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)，該儀器采用激光光電傳感器與計(jì)數(shù)計(jì)時(shí)儀相結(jié)合，測定懸盤的扭轉(zhuǎn)擺動(dòng)周期。通過實(shí)驗(yàn)使學(xué)生掌握物體轉(zhuǎn)動(dòng)慣量的物理概念及實(shí)驗(yàn)測量方法，了解物體轉(zhuǎn)動(dòng)慣量與哪些因素有關(guān)。

　　新型轉(zhuǎn)動(dòng)慣量實(shí)驗(yàn)儀KY-IM-C是在II型的基礎(chǔ)上改進(jìn)而成，除了保留原來所有的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目，將原來的底盤換成光學(xué)導(dǎo)軌的形式，這樣更加有利于光路的調(diào)整，節(jié)省了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。應(yīng)用該儀器實(shí)驗(yàn)者深入研究和分析懸盤振動(dòng)中等周期振動(dòng)及周期變化情況。儀器直觀性強(qiáng)，測量準(zhǔn)確度高。本儀器是傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)采用現(xiàn)代化技術(shù)的典型實(shí)例。

　　應(yīng)用本儀器可以完成以下實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：

　　1．學(xué)習(xí)用三線擺法測定物體的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量。

　　2．測定二個(gè)質(zhì)量相同而質(zhì)量分布不同的物體的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量，進(jìn)行比較。

　　3．驗(yàn)證轉(zhuǎn)動(dòng)慣量的平行軸定理。

　　儀器主要技術(shù)指標(biāo)：

　　1．?dāng)[線長度 ＞500 mm

　　2．總重量 13.6 Kg

　　3．計(jì)時(shí)儀分辨率 0.001 S

　　4．計(jì)數(shù)預(yù)置次數(shù) ≤66次

　　5．實(shí)驗(yàn)樣品 小圓柱體 2個(gè)

　　　　　　　　圓盤和圓環(huán) 各1個(gè)

產(chǎn)品名稱：激光測距儀/手持式測距儀 產(chǎn)品型號(hào)： GM-60D

激光測距儀/手持式測距儀 型號(hào)：GM-60D

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號(hào)： ST2253

數(shù)字式四探針測試儀 型號(hào)： ST2253 
概述   
      ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 

    儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。 
    主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！ 
     
    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
     
    測試臺(tái)選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺(tái)。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺(tái)，也可選配SZT-D型測試臺(tái)以測試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺(tái)測試橡塑材料電阻率。 
      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入 
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。 
    儀器于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。 
三、基本技術(shù)參數(shù) 
     
3.1  測量范圍 
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測試臺(tái)和測試方式?jīng)Q定) 
     直    徑：SZT-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    長(高)度：測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.4 數(shù)控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部） 
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào) 
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào) 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   機(jī)  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高） 
   凈   重：≤2.5kg

產(chǎn)品名稱：不良導(dǎo)體導(dǎo)熱系數(shù)測定儀 產(chǎn)品型號(hào)： TDJ-FR5

不良導(dǎo)體導(dǎo)熱系數(shù)測定儀型號(hào)：TDJ-FR5  
　　測量不良導(dǎo)體導(dǎo)熱系數(shù)，如真空橡皮板等，儀器由紅外線加熱，熱電偶測溫。